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Localizador de defeitos SYSTEM 8 ADVANCED MATRIX SCANNER(AMS) 64 CANAIS
preço sob consulta Consultar
SYSTEM 8 ADVANCED MATRIX SCANNER(AMS) 64 CANAIS
MARCA: EZABI ELECTRONICS
NCM: 90308410/
GARANTIA: 2 ANOS
com prazo de entrega de 90 dias.
unicamente na condição de pagamentos antecipados
Descrição:
Com 64 canais para análise de assinatura 3D, ideal para quem deseja realizar testes comparativos entre placas boas e suspeitas, sem a necessidade de energizá-las.
O método de análise de assinatura consiste em injetar em um ponto do dispositivo sobre teste (DUT) uma tensão AC com o intuito de medir uma corrente, e consequentemente plotar um gráfico de tensão x corrente, mais conhecido como curva V-I.
É possível analisar a resposta de um nó de um circuito variando a frequência da tensão AC injetada, conseguindo assim detectar falhas em placas ou componentes eletrônicos que dificilmente seriam detectadas com instrumentos convencionais. Testes dinâmicos em semicondutores como transistores, TRIACs e SCRs poderão ser realizados através de quatro saídas de pulsos que o sistema possui.
Adicionamos a está ferramenta o poderoso software SYSTEM 8 Ultimate, capaz de criar e gerenciar procedimentos de testes para cada tipo placa ou componente eletrônico analógico. Esse procedimento chamamos de TestFlow.
O AMS pode ser utilizado de duas formas, na baia do computador ou através de uma case externa USB chamada Multilinkcase.
Características Técnicas:
64 Canais para Análise de Assinatura V-I 3D (Expansíveis até 2048 Canais)
4 Canais para Análise de Assinatura 3D com pontas de prova
Variação de frequência de 1Hz a 10KHz
Variação de tensão de 2Vpk-pk a 50Vpk-pk
Teste V-I em modo Matrix em componetes de 64 pinos(Expansíveis até 2048 Pinos)
Testes de componentes DIL, SMD, PLCC e QFP
Resultados de comparação Pass e Fail
Comparação dos resultados de V-I em tempo real
Desenvolvimento de procedimento de testes(TestFlow)
Relatórios de Resultados de Testes
Software System 8 Ultimate
LINK VIDEO: https://www.youtube.com/watch?
v=E1wyPGJzGtI&list=PLY8vKd2Y1C7dbh8oG8e3B4UTRopwf648-
MEDIDAS: 39 X 20 X 39 - PESO: 4.8KG
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É possível analisar a resposta de um nó de um circuito variando a frequência da tensão AC injetada, conseguindo assim detectar falhas em placas ou componentes eletrônicos que dificilmente seriam detectadas com instrumentos convencionais. Testes dinâmicos em semicondutores como transistores, TRIACs e SCRs poderão ser realizados através de quatro saídas de pulsos que o sistema possui.
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Pedidos: minimo de 10 unidades por item conforme disponibilidade (verifique).
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